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兩箱式冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)

簡(jiǎn)要描述：冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)是一種廣泛應(yīng)用于材料研究和產(chǎn)品質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它能夠模擬材料在不同溫度條件下的性能表現(xiàn)，從而評(píng)估其耐熱性、耐寒性以及物理和化學(xué)性質(zhì)的變化。

產(chǎn)品型號(hào)2AP-CJ
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-03
訪問(wèn) 量2535

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冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊測(cè)試箱冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī) led冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) *冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 極冷極熱設(shè)備熱沖擊試驗(yàn)箱三箱高低溫沖擊箱子產(chǎn)品三溫測(cè)試箱高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī) 沖擊試驗(yàn)機(jī) 低溫沖擊箱快速變溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱高溫沖擊箱定制

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詳細(xì)介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ

　　冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)通常由一個(gè)大型測(cè)試箱、溫度控制系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)組成。測(cè)試箱內(nèi)部有足夠的空間容納待測(cè)樣品，并且具備良好的絕緣性能，以確保溫度均勻分布。溫度控制系統(tǒng)采用*的傳感器和控制器，能夠精確地調(diào)節(jié)實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的溫度。冷卻系統(tǒng)通常使用壓縮機(jī)和制冷劑來(lái)快速降低實(shí)驗(yàn)箱的溫度，而加熱系統(tǒng)則通過(guò)加熱元件提供高溫環(huán)境。

　　工作原理和用途：

　　兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)水冷系統(tǒng)是一種能施加溫度應(yīng)力且能實(shí)現(xiàn)在期望溫度值間快速變化的試驗(yàn)箱，由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)、傳感器系統(tǒng)等組成。

　　具有較大的溫度控制范圍，能提供：高低溫快速變化(5min)試驗(yàn)，一次或多次溫度變化試驗(yàn)(循環(huán))，低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)。

　　兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)水冷系統(tǒng)分為高溫儲(chǔ)存區(qū)、低溫儲(chǔ)存區(qū)、試驗(yàn)區(qū)三部分，利用低溫儲(chǔ)存區(qū)、高溫儲(chǔ)存區(qū)蓄冷、蓄熱，試驗(yàn)區(qū)用于放置待測(cè)產(chǎn)品接受試驗(yàn)。適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天等多種行業(yè)的溫濕變化產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。

　　主要技術(shù)參數(shù)：

　　1. 蓄溫溫度控制范圍：-70℃～+130℃(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　2. 沖擊試驗(yàn)溫度控制范圍：-55℃～+120℃(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　3. 溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5分鐘

　　4. 測(cè)試箱尺寸：50L~150L(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　5. 溫度波動(dòng)度：±1.0℃

　　6. 溫度均勻性：±2℃

　　7. 整機(jī)重量：(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　8. 箱體外形尺寸：(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　9. 測(cè)試箱材質(zhì)：SUS304不銹鋼

　　10. 外箱體材質(zhì)：SUS304不銹鋼/A3鋼板靜電噴涂

　　11. 使用電源：AC380V±5%/50Hz/3P+N+G

　　12. 整機(jī)功率：(具體規(guī)格參考參數(shù)表)

　　13. 氣源:3.0~4.0Kgf/M3(0.5~0.7Mpa)

　　14. 位置：放置箱體時(shí)注意與墻面距離應(yīng)大于600mm。

　　15. 使用環(huán)境要求:

　　1) 溫度:15℃~35℃

　　2) 相對(duì)濕度:不大于85%RH

　　3) 大氣壓:86Kpa~106Kpa

　　4) 熱輻射:無(wú)陽(yáng)光起直射，無(wú)熱源直接輻射

　　5) 氣流:無(wú)強(qiáng)烈氣流，需要時(shí)不可直接吹到箱體上

　　6) 電磁場(chǎng):無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)

　　7) 三廢:無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

型號(hào)	蓄溫溫度	沖擊溫度	測(cè)試箱尺寸	箱體外形尺寸	功率	重量
2AP-CJ-40	-55℃～+130℃	-40℃～+120℃	400350350	210015001850	18kw	600
2AP-CJ-55	-70℃～+130℃	-55℃～+120℃	400350350	210015001850	19kw	600
2AP-CJ-40-F	-55℃～+130℃	-40℃～+120℃	400400500	210015001900	20kw	650
2AP-CJ-55-F	-70℃～+130℃	-55℃～+120℃	400400500	210015001900	21kw	650
2AP-CJ-40-F	-55℃～+130℃	-40℃～+120℃	400500500	210015001900	21kw	700
2AP-CJ-55-F	-70℃～+130℃	-55℃～+120℃	400500500	210015001900	22kw	700
2AP-CJ--40-F	-55℃～+130℃	-40℃～+120℃	500500600	210015002000	23kw	750
2AP-CJ--55-F	-70℃～+130℃	-55℃～+120℃	500500600	210015002000	24kw	750
注:尺寸規(guī)格為(深寬*高mm),重量單位:kg,電源功率單位:kw

　　制造引用標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分試驗(yàn)N:溫度變化》

　　IEC 60068-2-14：1984《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分試驗(yàn)N:溫度變化》(修正件1：1986)

　　GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A低溫(idt IEC 60068-2-1:1990)

　　GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B高溫(idt IEC 60068-2-2:1974)

　　GB/T2423.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(idt IEC 60068-2-33:1971)

　　IEC600682-33：1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

　　GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

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